的大部分部件，并且各个不稳定要素之间又相互作用。下面就TCD常呈现毛病的现象介绍几种修理办法及原因剖析。

　　原因剖析：检测室处有少数冷凝物蒸发，致使基线发生动摇“其进程是冷凝物蒸发构成基流。而基流又与气路流量相关”当流量大时蒸发多，基流大，反之基流小。一般流量是有缓慢动摇的，约为1%以下。当气路清洁无污染时，此改变对基线呼应影响甚微。而当气路不洁净时却能引起较大的动摇。当温度下降时，冷凝物蒸发量下降“即便流量有动摇对基线也无可调查影响。

　　原因剖析：仪器长时间不必，器壁有吸附。预热时释放出来，影响基线稳定性。待仪器充沛预热后，基线到达正常。

　　检修办法进行操作条件重复性查看。应核实操作条件是不是与本来已知的条件相挨近。这儿包含各气路的流量值！柱温及检测器温度;输出衰减档的方位;桥流的巨细;电源是否接通。假如发现操作条件有反常，应努力使操作值与原给定值挨近，并及时找出影响操作值恢复的一些不利要素。原因剖析此刻应置疑的要素只要两个，一是热丝方位连线有误，另一个便是热丝外表严峻污染。关于前者应侧重了解是否重接过热导池引线。对热导池连线来说，除了四个热丝要构成一个桥流之外，还必须留意热导桥路的对臂热丝元件应当处于同一气路傍边。假如桥路接线是弄反了将会形成热导灵敏度很小乃至不出峰的现象。在此情况下往往还有双向峰发生。关于热丝外表严峻污染来说，应首要测验清洗热导池，无效时再考虑取下热丝清洗及完全替换。

　　检修办法去掉汽化加热板，调查气化室是否持续处于最高温度之下。如依然坚持失控，则阐明可控硅有机击穿，加热丝或引线与机壳相碰。这时堵截仪器总电源，然后用万用表测验可控硅及炉丝绝缘的好坏。测验可控硅时，可把阳极引线断开，直接查看可控硅阳极与阴极间正反向电阻。正常时为几兆欧。如此值巨细则阐明可控硅已击穿，需替换。查看炉丝对外壳绝缘可在加热烙铁芯引线两头别离测验对机壳的电阻，如有一端阻值很小则阐明加热电路中在碰壳处。